计算机研究与发展

北大核心,JST,Pж(AJ),EI,CSCD

国内刊号:11-1777/TP

国际刊号:1000-1239

计算机研究与发展杂志2018年第7期:面向处理器微体系结构评估的高通量MicroBenchmark研究

发布日期:

作者:薛瑞,苗福涛,叶笑春,孙凝晖,徐文星,

关键词:高通量应用, 处理器微体系结构设计, 基准测试程序, 并行化, Pthread模型,

基准测试程序是评估处理器微体系结构设计的重要手段,然而当前的基准测试程序无法有效全面地评估面向高通量应用的处理器微体系结构的设计.基于此,针对高通量应用的特征,提出了用于评估面向高通量应用的处理器微体系结构设计的基准测试程序——HTC-MicroBench.首先,提出一种基于应用特征的高通量应用分类方法,并基于此分类方法对高通量应用中的Workload进行分类.其次,针对高通量应用的特征,提出了一种基于线程的作业处理节点并行化模型,基于此模型完成了HTC-MicroBench的设计和实现.最后,从作业并发性、作业之间的耦合性和Cache使用效率等指标对HTC-MicroBench进行实验评估;并基于HTC-MicroBench对TILE-Gx和Xeon两种处理器的并行加速能力做了评估,高并发、低耦合和由Workload特征所体现出的不同Cache命中率的评估结果说明了HTC-MicroBench能够准确刻画高通量应用的特征,并对面向高通量应用的处理器微体系结构的设计进行有效的测评.

来源:2018年第7期

《计算机研究与发展》期刊编辑部

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