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国内刊号：11-1777/TP
国际刊号：1000-1239
发布日期:
作者：欧阳丹彤,陈晓艳,叶靖,邓召勇,张立明,
关键词：电路测试, 自动测试向量生成, 测试向量集, 约简, 故障覆盖率, 极小碰集, 固定型故障,
自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值，在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAXATPG2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具，可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法，通过对测试向量集约简问题重新建模，利用极小碰集求解算法对TetraMAXATPG2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模，且保证其故障覆盖率不变，对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障，结果表明：该算法具有良好的约简效果，而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量.
来源：2019年第11期
《计算机研究与发展》期刊编辑部
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