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国内刊号：11-1777/TP
国际刊号：1000-1239
发布日期:
作者：高鹏,汪东升,王海霞,
关键词：相变存储器, 片间磨损局部性, 写减少算法, 磨损均衡算法, 混合内存,
现代存储系统一般是由多个存储芯片通过并列数据线、共享地址线的方式构成的.因此，在多片相变存储芯片并联构成的内存系统中，如果多个芯片间的磨损存在较大差异，那么该系统的寿命将会因短板效应而受到影响.模拟实验和数据分析均确认了这一问题在实际系统中的存在.在此基础上，提出了一种混合内存设计，用于延长相变内存的寿命.该方法引入了一种动态识别机制，可以在每次写入时识别遭受最多磨损的相变存储芯片，并将该芯片未来的写入转移到另一个长寿命的存储芯片中.这一措施可以减少对相变存储芯片的总写入量，并缩小相变存储芯片间的写入量差别.实验表明：使用RMB设计的内存系统的寿命最多可达无任何寿命延长方法时的7.9倍，可达使用经典方法PRES的5.14倍.
来源：2019年第12期
《计算机研究与发展》期刊编辑部
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